原子吸收分光光度計(jì)出現(xiàn)干擾如何進(jìn)行消除
點(diǎn)擊: 次 時間:2016-11-18 11:00
一、試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)過程中物理因素變化引起的干擾效應(yīng)
主要影響試樣噴入火焰的速度、進(jìn)樣量、霧化效率、原子化效率、霧滴大小等。
因素：溶液的粘度、表面張力、密度、溶劑的蒸汽壓和霧化氣體的壓力等。
特點(diǎn)：物理干擾是非選擇性干擾,對各種元素影響基本相同。
消除方法：
1) 配置相似組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,采用標(biāo)準(zhǔn)加入法；
2) 盡可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸來處理試樣；
3) 當(dāng)試樣濃度較高時，適當(dāng)稀釋試液也可以抑制物理干擾。
二、待測元素與其它組分之間的化學(xué)作用，生成了難揮發(fā)或難解離的化合物，使基態(tài)原數(shù)目減少所引起的干擾效應(yīng)
主要影響到待測元素的原子化效率，是主要干擾源。
特點(diǎn)：化學(xué)干擾是選擇性干擾。
因素：
1)分子蒸發(fā)：待測元素形成易揮發(fā)鹵化物和某些氧化物，在灰化溫度下蒸發(fā)損失；
2)形成難離解的化合物（氧化物、炭化物、磷化物等）；
3)氧化物：較難原子化的元素B、Ti、Zr、V、Mo、Ru、Ir、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、U；
4)很難原子化的元素：Os、Re、Nd、Ta、Hf、W；
5)炭化物：Be、B、Al、Ti、Zr、V、W、Si、U 稀土等形成難揮發(fā)炭化物；
6)磷化物：Ca3PO4等。
消除方法：
1)提高火焰溫度使得難解離的化合物較完全基態(tài)原子化。
2)加入釋放劑，與干擾元素生成更穩(wěn)定或更難揮發(fā)的化合物，使待測元素釋放出來。常用的釋放劑：LaCl3、Sr(NO3)2等。（如：火焰原子吸收法測定鈣，磷酸鹽的存在會生成難揮發(fā)的Ca2P2O7，此時可以加入LaCl3，則La3+與PO43-生成熱更穩(wěn)定的LaPO4，抑制了磷酸根對鈣測定的干擾。）
3)加入保護(hù)劑，待測元素形成穩(wěn)定的絡(luò)合物，防止待測元素與干擾物質(zhì)生成難揮發(fā)化合物。常用的保護(hù)劑：EDTA、8-羥基喹林、乙二醇等。（如：火焰原子吸收法測定鈣，磷酸鹽的存在會生成難揮發(fā)的Ca2P2O7，加入EDTA，生成EDTA-Ca絡(luò)合物，該絡(luò)合物在火焰中易于原子化，避免磷酸根與鈣作用。）
4)加入基體改進(jìn)劑，改變基體或被測元素的熱穩(wěn)定性，避免化學(xué)干擾，這些化學(xué)試劑稱為基體改進(jìn)劑。（如：測定海水中Cu、Fe、Mn，加入基體改進(jìn)劑NH4NO3，使NaCl基體轉(zhuǎn)變成易揮發(fā)的NH4Cl和NaNO3，使其在原子化之前低于500℃的灰化階段除去。）
5)化學(xué)分離法，用化學(xué)方法將待測元素與干擾元素分離。常用的化學(xué)分離法：萃取法、離子交換法、沉淀法。
三、電離干擾
某些易電離元素在火焰中產(chǎn)生電離，使基態(tài)原子數(shù)減少，降低了元素測定的靈敏度，這種干擾稱為電離干擾，電離干擾的程度與火焰溫度及元素種類有關(guān)。
消除方法：采用低溫火焰或在試液中加入過量的更易電離的化合物(消電離劑)，能夠有效地抑制待測元素的電離。在火焰溫度下，消電離劑首先電離，產(chǎn)生大量的電子，抑制了被測元素的電離。
常用的消電離劑：CsCl、KCl、NaCl等
四、光譜干擾
光譜干擾主要分為譜線干擾和背景干擾兩種。主要來源于光源和原子化器。
1、譜線干擾和抑制
定義：發(fā)射線的鄰近線的干擾：指空心陰極燈的元素、雜質(zhì)或載氣元素的發(fā)射線與待測元素共振線的重疊干擾。吸收線重疊的干擾：指試樣中共存元素吸收線與待測元素共振線的重疊干擾。
抑制：減小單色器的光譜通帶寬度，提高儀器的分辨率，使元素的共振線與干擾譜線完全分開。或選擇其它吸收線等方法抑制譜線干擾。
2、背景干擾和抑制
定義：背景干擾主要是指原子化過程中產(chǎn)生的分子吸收和固體微粒產(chǎn)生的光散射干擾效應(yīng)。
背景干擾抑制和消除：
(1)火焰：改變火焰類型、燃助比、調(diào)節(jié)火焰觀測區(qū)高度。
石墨爐：選用適當(dāng)?shù)幕w改進(jìn)劑。
(2)光譜背景的校正
A、用鄰近非共振線校正背景
用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，在分析線鄰近選一條非共振線，此時測出的是背景吸收，兩次測量值之差即為校正背景后的吸光度。這種校正方法準(zhǔn)確度較差，只適用于分析線附近背景分布比較均勻的情況。
B、用連續(xù)光源校正背景
用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度再用氘燈(紫外區(qū))或碘鎢燈(可見區(qū))在同一波長測定背景吸收，計(jì)算兩次測定吸光度之差，即為校正背景后的吸光度。由于空心陰極燈與氘燈兩種連續(xù)光源放電性質(zhì)不同，能量分布不同，會導(dǎo)致背景校正不足或過度。
C、用塞曼效應(yīng)校正背景
塞曼效應(yīng)校正背景基于磁場將吸收線分裂為具有不同偏振方向的組分，利用這些分裂的偏振成分來區(qū)別被測元素和背景吸收。塞曼效應(yīng)校正背景的準(zhǔn)確度高，但儀器價格較貴。
上一篇：色譜柱的再生和維護(hù)規(guī)程 下一篇：色譜柱的再生和維護(hù)規(guī)程
主要影響試樣噴入火焰的速度、進(jìn)樣量、霧化效率、原子化效率、霧滴大小等。
因素：溶液的粘度、表面張力、密度、溶劑的蒸汽壓和霧化氣體的壓力等。
特點(diǎn)：物理干擾是非選擇性干擾,對各種元素影響基本相同。
消除方法：
1) 配置相似組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,采用標(biāo)準(zhǔn)加入法；
2) 盡可能避免使用粘度大的硫酸、磷酸來處理試樣；
3) 當(dāng)試樣濃度較高時，適當(dāng)稀釋試液也可以抑制物理干擾。
二、待測元素與其它組分之間的化學(xué)作用，生成了難揮發(fā)或難解離的化合物，使基態(tài)原數(shù)目減少所引起的干擾效應(yīng)
主要影響到待測元素的原子化效率，是主要干擾源。
特點(diǎn)：化學(xué)干擾是選擇性干擾。
因素：
1)分子蒸發(fā)：待測元素形成易揮發(fā)鹵化物和某些氧化物，在灰化溫度下蒸發(fā)損失；
2)形成難離解的化合物（氧化物、炭化物、磷化物等）；
3)氧化物：較難原子化的元素B、Ti、Zr、V、Mo、Ru、Ir、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、U；
4)很難原子化的元素：Os、Re、Nd、Ta、Hf、W；
5)炭化物：Be、B、Al、Ti、Zr、V、W、Si、U 稀土等形成難揮發(fā)炭化物；
6)磷化物：Ca3PO4等。
消除方法：
1)提高火焰溫度使得難解離的化合物較完全基態(tài)原子化。
2)加入釋放劑，與干擾元素生成更穩(wěn)定或更難揮發(fā)的化合物，使待測元素釋放出來。常用的釋放劑：LaCl3、Sr(NO3)2等。（如：火焰原子吸收法測定鈣，磷酸鹽的存在會生成難揮發(fā)的Ca2P2O7，此時可以加入LaCl3，則La3+與PO43-生成熱更穩(wěn)定的LaPO4，抑制了磷酸根對鈣測定的干擾。）
3)加入保護(hù)劑，待測元素形成穩(wěn)定的絡(luò)合物，防止待測元素與干擾物質(zhì)生成難揮發(fā)化合物。常用的保護(hù)劑：EDTA、8-羥基喹林、乙二醇等。（如：火焰原子吸收法測定鈣，磷酸鹽的存在會生成難揮發(fā)的Ca2P2O7，加入EDTA，生成EDTA-Ca絡(luò)合物，該絡(luò)合物在火焰中易于原子化，避免磷酸根與鈣作用。）
4)加入基體改進(jìn)劑，改變基體或被測元素的熱穩(wěn)定性，避免化學(xué)干擾，這些化學(xué)試劑稱為基體改進(jìn)劑。（如：測定海水中Cu、Fe、Mn，加入基體改進(jìn)劑NH4NO3，使NaCl基體轉(zhuǎn)變成易揮發(fā)的NH4Cl和NaNO3，使其在原子化之前低于500℃的灰化階段除去。）
5)化學(xué)分離法，用化學(xué)方法將待測元素與干擾元素分離。常用的化學(xué)分離法：萃取法、離子交換法、沉淀法。
三、電離干擾
某些易電離元素在火焰中產(chǎn)生電離，使基態(tài)原子數(shù)減少，降低了元素測定的靈敏度，這種干擾稱為電離干擾，電離干擾的程度與火焰溫度及元素種類有關(guān)。
消除方法：采用低溫火焰或在試液中加入過量的更易電離的化合物(消電離劑)，能夠有效地抑制待測元素的電離。在火焰溫度下，消電離劑首先電離，產(chǎn)生大量的電子，抑制了被測元素的電離。
常用的消電離劑：CsCl、KCl、NaCl等
四、光譜干擾
光譜干擾主要分為譜線干擾和背景干擾兩種。主要來源于光源和原子化器。
1、譜線干擾和抑制
定義：發(fā)射線的鄰近線的干擾：指空心陰極燈的元素、雜質(zhì)或載氣元素的發(fā)射線與待測元素共振線的重疊干擾。吸收線重疊的干擾：指試樣中共存元素吸收線與待測元素共振線的重疊干擾。
抑制：減小單色器的光譜通帶寬度，提高儀器的分辨率，使元素的共振線與干擾譜線完全分開。或選擇其它吸收線等方法抑制譜線干擾。
2、背景干擾和抑制
定義：背景干擾主要是指原子化過程中產(chǎn)生的分子吸收和固體微粒產(chǎn)生的光散射干擾效應(yīng)。
背景干擾抑制和消除：
(1)火焰：改變火焰類型、燃助比、調(diào)節(jié)火焰觀測區(qū)高度。
石墨爐：選用適當(dāng)?shù)幕w改進(jìn)劑。
(2)光譜背景的校正
A、用鄰近非共振線校正背景
用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，在分析線鄰近選一條非共振線，此時測出的是背景吸收，兩次測量值之差即為校正背景后的吸光度。這種校正方法準(zhǔn)確度較差，只適用于分析線附近背景分布比較均勻的情況。
B、用連續(xù)光源校正背景
用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度再用氘燈(紫外區(qū))或碘鎢燈(可見區(qū))在同一波長測定背景吸收，計(jì)算兩次測定吸光度之差，即為校正背景后的吸光度。由于空心陰極燈與氘燈兩種連續(xù)光源放電性質(zhì)不同，能量分布不同，會導(dǎo)致背景校正不足或過度。
C、用塞曼效應(yīng)校正背景
塞曼效應(yīng)校正背景基于磁場將吸收線分裂為具有不同偏振方向的組分，利用這些分裂的偏振成分來區(qū)別被測元素和背景吸收。塞曼效應(yīng)校正背景的準(zhǔn)確度高，但儀器價格較貴。
上一篇：色譜柱的再生和維護(hù)規(guī)程 下一篇：色譜柱的再生和維護(hù)規(guī)程